近日，日本產(chǎn)業(yè)技術(shù)綜合研究所(產(chǎn)綜研)公布了與信越化學(xué)工業(yè)一同對使用了信越化學(xué)新開發(fā)的硅封裝材料的太陽能電池板所做的評估試驗結(jié)果。

　　在產(chǎn)綜研九州中心(左賀縣鳥棲市)實施的高溫高濕試驗和溫度循環(huán)試驗中，電池板顯示出了優(yōu)異的耐久性。

　　由使用了這種封裝材料的單晶n型硅類太陽能電池板的評估試驗，確認(rèn)了對加載高電壓導(dǎo)致輸出功率大幅降低的故障——PID(Potential-induced degradation)現(xiàn)象造成的輸出降低有抑制效果。今后，不僅是單晶n型硅類產(chǎn)品的輸出降低抑制效果，還有望提高太陽能電池板的長期可靠性。

　　新封裝材料不同于以往的硅，因是片狀，故可供太陽能電池板制造工序?qū)氲钠胀ㄖ圃煅b置使用。

　　產(chǎn)綜研為查明太陽能電池板的劣化機制、開發(fā)長期可靠性優(yōu)異的相關(guān)材料，于2009年10月設(shè)立了“高可靠性太陽能電池模塊開發(fā)及評估聯(lián)盟”，在2014年3月之前一直在與企業(yè)等合作進行研究開發(fā)。

　　信越化學(xué)在2012年1月～2014年3月期間參加了該聯(lián)盟，除了研究開發(fā)硅封裝材料外，還于2014年4月～2015年4月，在產(chǎn)綜研的九州中心，使用開發(fā)的硅封裝材料，評估了實用尺寸電池板的可靠性。